Metingswaaier:0-1999.9
LCD:De 4,3 duim
Taal:Chinees en Engels
LCD:De 4,3 duim
Taal:Chinees en Engels
Testgegevens:meer dan 99.999
Prestaties:gelijktijdige meting van veelvoudige hoeken
Metingswijze:veelvoudige hoeken
testgegevens:meer dan 99.999
Prestaties:gelijktijdige meting van veelvoudige hoeken
Instrumentengrootte::220mm × 250mm × 82mm (L×H×W)
testgegevens:meer dan 99.999
Prestaties:gelijktijdige meting van veelvoudige hoeken
Metingswaaier:0-1999.9
testgegevens:meer dan 99.999
Prestaties:gelijktijdige meting van veelvoudige hoeken
testgegevens:meer dan 99.999
Observatiehoek:0.2°、 0.5°、 1°
Prestaties:gelijktijdige meting van veelvoudige hoeken
Metingspunten:retroreflective coëfficiëntencd.lx-1.m-2
Fout van reproduceerbaarheidsmeting:≤3%
Observatiehoek:0.2°、 0.5°、 1°
Invalshoek:-4°、 5°、 15°、 30°
Instrumentengrootte:220mm × 250mm × 80mm (L×H×W)
Observatiehoek:0.2°、 0.5°、 1°
Invalshoek:-4°、 5°、 15°、 30°
testgegevens:meer dan 99.999
LCD:4,3-duim
Hoofdmodule:32 MCU
Observatiehoek:0.2°、 0.5°、 1°
LCD:4,3-duim
Hoofdmodule:32 MCU
Fout van herhaalbaarheidsmeting:≤2%
testgegevens:meer dan 99.999
Metingswijze:veelvoudige hoeken
Prestaties:gelijktijdige meting van veelvoudige hoeken